Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này:
http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/25303| Nhan đề: | Ứng dụng phương pháp tán xạ tia X góc nhỏ đánh giá ảnh hưởng thăng giáng mật độ điện tử đến các cấu trúc vi mô của màng dẫn proton trong pin nhiên liệu. | Tác giả: | La, Lý Nguyên Lâm, Hoàng Hảo Lê, Viết Hải Nguyễn, Nhật Kim Ngân Nguyễn, Tiến Cường Lưu, Anh Tuyên Phan, Trọng Phúc Huỳnh, Trúc Phương Lê, Quang Luân Nguyễn, Thị Ngọc Huệ Trần, Duy Tập |
Từ khoá: | Tạp chí Khoa học và Công nghệ Việt Nam | Năm xuất bản: | 2020 | Tùng thư/Số báo cáo: | Tạp chí Khoa học và Công nghệ Việt Nam- B - 2020 - no.1B | Định danh: | https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=302220 http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/25303 |
| Bộ sưu tập: | Báo - Tạp chí |
Các tập tin trong tài liệu này:
| Tập tin | Kích thước | Định dạng | Đã có tài khoản, vui lòng Đăng nhập |
|---|---|---|---|
| 48249-1585-152008-1-10-20200605.pdf | 1.06 MB | Adobe PDF |
Các đề xuất từ CORE
Google Scholar TM
Kiểm tra...
Khi sử dụng các tài liệu trong Hệ thống quản lý thông tin nghiên cứu phải tuân thủ Luật bản quyền.