NGHIÊN CỨU ẢNH HƯỞNG CỦA DIỆN TÍCH BỀ MẶT DẪN ĐIỆN VÀ CÁC LỖI XẾP CHỒNG ĐẾN ĐẶC TÍNH CỦA ĐIỐT PiN 4H-SIC = ELECTRICAL IMPACT CHARACTERIZATION OF ANODE ACTIVE AREA AND STACKING-FAULTS IN 6.5 KV 4H-SIC PIN DIODES

Please use this identifier to cite or link to this item: http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/27696

Title:	NGHIÊN CỨU ẢNH HƯỞNG CỦA DIỆN TÍCH BỀ MẶT DẪN ĐIỆN VÀ CÁC LỖI XẾP CHỒNG ĐẾN ĐẶC TÍNH CỦA ĐIỐT PiN 4H-SIC = ELECTRICAL IMPACT CHARACTERIZATION OF ANODE ACTIVE AREA AND STACKING-FAULTS IN 6.5 KV 4H-SIC PIN DIODES
Authors:	Nguyễn, Mạnh Quân Cài, đặtNguyễn Duy Minh
Keywords:	Tạp chí Khoa học & Công nghệ
Issue Date:	2020
Series/Report no.:	Tạp chí Khoa học & Công nghệ - Đại học Công nghiệp Hà Nội - 2020 - no.56
URI:	https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=301138 http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/27696
Appears in Collections:	Báo - Tạp chí

File	Size	Format	Existing users please Login
48120-325-151905-1-10-20200601.pdf	921.67 kB	Adobe PDF

CORE Recommender

Check