Vui lòng dùng định danh này để trích dẫn hoặc liên kết đến tài liệu này:
http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/27696| Nhan đề: | NGHIÊN CỨU ẢNH HƯỞNG CỦA DIỆN TÍCH BỀ MẶT DẪN ĐIỆN VÀ CÁC LỖI XẾP CHỒNG ĐẾN ĐẶC TÍNH CỦA ĐIỐT PiN 4H-SIC = ELECTRICAL IMPACT CHARACTERIZATION OF ANODE ACTIVE AREA AND STACKING-FAULTS IN 6.5 KV 4H-SIC PIN DIODES | Tác giả: | Nguyễn, Mạnh Quân Cài, đặtNguyễn Duy Minh |
Từ khoá: | Tạp chí Khoa học & Công nghệ | Năm xuất bản: | 2020 | Tùng thư/Số báo cáo: | Tạp chí Khoa học & Công nghệ - Đại học Công nghiệp Hà Nội - 2020 - no.56 | Định danh: | https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=301138 http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/27696 |
| Bộ sưu tập: | Báo - Tạp chí |
Các tập tin trong tài liệu này:
| Tập tin | Kích thước | Định dạng | Đã có tài khoản, vui lòng Đăng nhập |
|---|---|---|---|
| 48120-325-151905-1-10-20200601.pdf | 921.67 kB | Adobe PDF |
Các đề xuất từ CORE
Google Scholar TM
Kiểm tra...
Khi sử dụng các tài liệu trong Hệ thống quản lý thông tin nghiên cứu phải tuân thủ Luật bản quyền.