Please use this identifier to cite or link to this item:
http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/34497
Title: | Nhận dạng tấm pin mặt trời bị lỗi dựa trên hình ảnh điện phát quang bằng deep learning = Detect pv cell defection based on electroluminescence light using deep learning | Authors: | Nguyễn, Quốc Minh Lê, Thị Minh Châu Nguyễn, Đăng Tiến Lê, Minh Hiếu |
Keywords: | Khoa học và Công nghệ - Đại học Thái Nguyên | Issue Date: | 2021 | Series/Report no.: | Khoa học và Công nghệ - Đại học Thái Nguyên - 2021 - no.11 - tr.117-123 - ISSN.1859-2171 | URI: | https://sti.vista.gov.vn/tw/Pages/tai-lieu-khcn.aspx?ItemID=330790 http://thuvienlamdong.org.vn:81/handle/DL_134679/34497 |
Appears in Collections: | Báo - Tạp chí |
Files in This Item:
File | Size | Format | Existing users please Login |
---|---|---|---|
CTv178V226S112021117.pdf | 940.24 kB | Adobe PDF |
CORE Recommender
Google ScholarTM
Check
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.